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产品名称: 镜片反射率测定仪
产品型号: USPM-RU-W近红外显微分光测定仪
产品展商: 奥林巴斯
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简单介绍
近红外显微分光测定仪USPM-RU-W 可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此*适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
镜片反射率测定仪
的详细介绍
奥林巴斯的USPM-RU-W近红外显微分光测定仪可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此*适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
实的测定功能
使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定。
◆测定反射率
测定以物镜聚光φ17～70μm的微小点的反射率。
◆测定膜厚
活用反射率数据，测定约50nm～约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。
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◆测定物体颜色
根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b色度图及相关数值。
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◆测定透过率
从受台下部透过φ2mm的平行光，测定平面样品的透过率。（选配）
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◆测定入射角为45度的反射率
从侧面向45度面反射φ2mm的平行光，测定其反射率。（选配）
域的高精度&高速测定
◆实现高速测定
使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定。
◆*适用于测定细小部件、镜片的反射率
新设计了可以在φ17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。
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◆测定反射率时，不需要背面防反射处理
将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，就可测定*薄0.2mm的反射率*。
◆可选择的膜厚测定方法
根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。可以根据用途选择*佳的测定方法。
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近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W：规格
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反射率测定
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透过率测定*1
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45度反射测定*1
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名称
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近红外显微分光测定仪
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近红外显微分光测定仪用
透过测定选配件
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近红外显微分光测定仪用
45度反射测定选配件
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型号
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USPM-RU-W
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测定波长
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380～1050nm
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测定方法
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对参照样品的比较测定
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对100%基准的透过率测定
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对参照样品的比较测定
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测定范围
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参照下列对物镜的规格
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约?2.0mm
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测定
再现性（3σ）*2
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反射率测定
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使用10×、20×物镜时
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±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外）
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±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左侧记载除外）
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使用40×物镜时
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±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外）
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厚膜测定
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±1%
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-
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波长显示分解能
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1nm
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照明附件
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专用卤素灯光源 JC12V 55W（平均寿命700h）
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位移受台
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承载面尺寸：200(W)×200(D)mm
承重：3 kg
工作范围：(XY) ±40mm, (Z)125mm
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倾斜受台
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－
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承载面尺寸： 140(W)×140(D)mm
承重： 1 kg
工作范围：(XT) ±1°, (YT) ±1°
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装置质量
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主体：约26 kg（PC除外）
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主体：约31 kg（PC除外）*3
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控制电源箱：约6.7kg
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装置尺寸
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主体部位：360(W)×446(D)×606(H)mm
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主体部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
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控制电源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
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电源规格
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输入规格：100-240V (110VA) 50/60Hz
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使用环境
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水平无振动的场所
温度：15～30℃
湿度：15～60％RH（无结露）
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*1 选件组件 *2 本社测定条件下的测定 *3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。
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对物镜
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型号
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USPM-OBL10X
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USPM-OBL20X
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USPM-OBL40X
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倍率
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10x
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20x
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40x
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NA
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0.12
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0.24
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0.24
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测定范围*4
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70μm
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34μm
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17μm
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工作距离
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14.3mm
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4.2mm
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2.2mm
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样品的曲率半径
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±5mm～
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±1mm～
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±1mm～
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*4 点径